Espectroscópio de Fotoelétrons Excitados por Raios – X

O espectrômetro K-Alpha Surface Analysis System possui a capacidade de utilizar raios-X para analisar a composição e especiação de elementos químicos na superfície de sólidos (com ate décimos de micrômetro de profundidade). A espectroscopia XPS permite conhecimento dos estados de oxidação de elementos químicos e noção com respeito a ambiente químico/ligações químicas de um dado elemento na superfície do sólido a partir da energia de ligação dos elétrons de valência ejetados deste. Além disso, a integração dos sinais gerados pode revelar quantidades relativas de um dado elemento do sólido e seus estados de oxidação possíveis.